开班时间地点： 2008年3月25日-26日(广州，共2天)

支持单位： 广东平板显示产业促进会

主办单位： 中华液晶网（FPDisplay.com）

支持媒体：《平显时代》、《手机资讯》

刘益宏 (Yi-Hung Liu)
• 学历：台大机械系博士 (Ph.D., Department of Mechanical Engineering, National Taiwan University, Taiwan)
• 现职：台湾中原大学机械系助理教授 (Assistant Professor, Department of Mechanical Engineering, Chung Yuan Christian University, Taiwan)
• 专长：机器视觉 (machine vision)、图形识别(pattern recognition)、人工智能(artificial intelligence)、机器人(robotics)、自动化光学检测(automatic optical inspection) 。
• 其它经历：
  • 2007美国辛辛那提大学 访问学者 (Visiting scholar, Univ. Cincinnati, USA)
  • 名列2007亚洲名人录 (Marquis Who’s Who in Asia 2007)
  • 名列2008世界名人录 (Marquis Who’s Who in the World 2008)

李铭周 　资深工程师，台湾知名面板厂的副理。
• 学历：台湾师范大学工业教育系　学士
  　　　中原大学机械工程研究所　硕士
• 经历：台湾面板厂(五大厂之一)　六年

　　TFT-LCD制程分为三个阶段：数组制程(arrayprocess)、液晶制程(cellprocess)、模块制程(modul　　eprocess)。目前世界上关于TFT-LCD检测的研究及设备，大多针对液晶制程中常发生的MURA瑕疵。然而，影响面板良率最多的原因，大多是因为数组制程中的半导体制程所产生的瑕疵。由于每一家面板厂的数组图案(arraypattern)都视为该公司的KNOW-HOW，不释出，以致于对于数组制程的瑕疵检测仍未有非常透彻的研究及了解。因此，对于每一家面板厂及LCD设备商来说，数组制程中的自动化检测是目前都在进行当中的研究。
　　本课程以讲师多年来在台湾与面板厂的合作经验为基础，将深入介绍此制程中每一道光罩中常见的瑕疵、及他们发生的原因。此外，本课程亦将以讲师的学术背景为基础，介绍如何发展各种算法，建立一套自动化瑕疵分类系统。希望可以藉由此课程，帮助面板厂、或是设备商的研发人员建立一个正确的瑕疵检测的概念。此外，为了要介绍瑕疵分类系统的架构，此课程当中将会提到诸多关于「影像处理(image process　ing)」、「类神经网络 (neuralnetwork)」、「统计学习(statisticallearning)」、及「图形辨识(patternreco　gnition)」等相关理论的「数学」及「观念」。若学员未有此方面之背景知识，学员可以先以瑕疵分析为主参加此课程，待课程束之后，学员可以以自修方式补足这方面之不足，便可以自行设计一套可以实用的TFT-LCD数组制程瑕疵分类系统或是软件。在课程最后，讲师将展示以C++开发之瑕疵分类系统及人机接口。

招生基本要求

须具有基本英文能力 须具有基本工程数学能力

培训费用

共2400元/人。优惠：2008年3月10日前报名汇款2000元/人。 注：该费用包含教材、培训、证书、午餐费用；住宿费用请自行解决。